GB-T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法

ICS 31.200 CCS L 55 中华人民共和国国家标准 GB/T43063—2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法 Integrated circuit-Test method for CMOS image sensors 2024-01-01实施 2023-09-07发布国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会 GB/T 43063—2023 目次前言 1 范围 2 规范性引用文件 3 术语和定义 4 测试参数名称及符号 5 一般要求 5.1 测试环境 5.2 测试系统 5.3 规定条件 5.4 静电防护要求 6 测试方法 6.1. 转换增益K 6.2 暗信号Sp 6.3 暗信号非均匀性（固定图形噪声)FPN 6.4 读出噪声N. 6.5 响应非线性Lin 6.6 满阱电荷数 Ns 11 6.7 动态范围DR 12 6.8 信噪比S/N 6.9 光响应非均匀性PRNU 13 6.10 灵敏度R 6.11 缺陷像元 16 6.12 电荷滞留NRE 17 6.13 抗弥散性 18 6.14 量子效率n 19 6.15 光谱响应度R， 6.16 峰值响应波长入p 6.17 光谱响应范围 23 6.18 调制传递函数（奈奎斯特频率）MTF :24 6.19 动态调制传递函数（奈奎斯特频率）MTF 26 6.20 角度响应曲线 28

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本文档由思安于 2024-01-14 23:25:05上传分享