中华人民共和国国家标准 GB/T 5095.1~5095.9-1997 idt IEC 512-1~512-9 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 Electromechanical components for electronic equipment Basic testing procedures and measuring methods 1997-12-26发布 1998-10-01实施国家技术监督局发布 GB/T 5095.5-1997 前言本标准等同采用IEC512-5：1992《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第5部分：撞击试验（自由元件）、静负荷试验（固定元件）、寿命试验和过负荷试验》，是对GB5095.5一86进行的第- 次修订。本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会归口。本标准由电子工业部标准化研究所负贵起草。本标准主要起草人：余玉芳、汪其龙、张菊华、王玉堂。 68

GB-T 5095.5-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第5部分撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验

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GB-T 5095.5-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分 撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验

GB-T 5095.5-1997 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第5部分撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验