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ICS 31. 080. 10 L43 中华人民共和国国家标准 GB/T 6351- 1998 idt IEC 747-2-1:1989 QC 750108 半导体器件 分立器件 第2部分:整流二极管 第一篇100A以下环境或管壳额定 整流二极管(包括雪崩整流二极管) 空白详细规范 Semiconductor devices--Discrete devices Part 2:Rectifier diodes Section One--Blank detail specification for rectifier diodes(including avalanche recti fier diodes),ambient and case-rated,up to 100A 1998-11-17发布 1999-06-01实施 国家质量技术监督局发布 GB/T 63511998 前 言 本规范等同采用IEC747-2-1:1989《半导体器件分立器件 :100A以下环境或管壳额定整流二极 管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范》。本规范是GB/T6351--1987的修订版。 本规范与GB/T6351一1986的主要差别是:在第5章中增加了5.5总耗散功率。原来的5.5热阻 改为5.6,删去了C2d分组热阻。 除非另有规定,在本规范第8章中引用的条号对应于GB/T4589.1-1989《半导体器件分立器件 和集成电路总规范》(IEC747-10:1984)的条号,测试方法引自GB/T4023一1997。 《半导体器件分立器件第2部分:整流二极管》(IEC747-2:83);试验方法引自GB/T4937~ 1995《半导体器件机械和气候试验方法》(IEC749:1984)。 本规范由中华人民共和国电子工业部提出。 本规范由全国半导体器件标准化技术委员会归口。 本规范由电子工业部标准化研究所负责起草。 本规范主要起草人:于志贤、刘东才、王保桢。
GB-T 6351-1998 半导体器件 分立器件 第2部分 整流二极管 第一篇 100A以下环境或管壳额定整流二极管(包括雪崩整流二极管)空
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